SWY2858介電常數測試儀
SWY2858系列 介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置,標準介質(zhì)樣品組成,能對薄膜、各種板材及液態(tài)絕緣材料進(jìn)行高低頻介電常數(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。SWY2858系列 介電常數測試儀符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
SWY2858系列介電常數測試儀工作頻率范圍是20Hz~5MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。
SWY2858系列介電常數測試儀中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp(電容值)讀數通過(guò)公式計算得到。
1 特點(diǎn):
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示,保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數測量范圍可達1~105
2 主要技術(shù)指標:
2.1 ε和D性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz~1MHz的ε和D變化的測
2.1.2 ε和D測量范圍:ε:1~105,D:0.1~0.00005,
2.1.3 ε和D測量精度(10kHz):ε:±2% , D:±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數字電橋
型號
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SWY2817A
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SWY2818A/B/C
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工作頻率范圍
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50Hz~100kHz(10個(gè)頻點(diǎn))
精度:±0.05%
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20Hz~1MHz/2MHz/5MHz
數字合成,精度:±0.02%
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電容測量范圍
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0.0001pF~99999μF
四位數顯
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0.00001pF~9.99999F
六位數顯
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電容測量基本誤差
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±0.05%
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±0.05%
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損耗因素D值范圍
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0.0001~9.9999
四位數顯
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0.00001~9.99999
六位數顯
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2.3 SWY916B 介電常數測試裝置(含保護電極)
2.3.1 平板電容器極片尺寸:Φ5mm、Φ38mm和Φ50mm三種可選.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm, ±0.001mm
2.3.3插頭間距:與電橋四端配合
2.3.4加溫控溫裝置(選購設備)可以完成高達200℃控溫精度l℃加熱測試。
2.4 介質(zhì)材料測試裝置提供四種不同直徑測試電極,
能對直徑φ10~56mm,厚度<10mm的試樣精密測量。它針對不同試樣
可設置為接觸電極法,薄膜電極法和
非接觸法三種,以適應軟材料,表面不平整和薄膜試樣測試。
2.4.1 微分頭分辨率:10μm
2.4.2 高耐壓:±42Vp(AC+DC)
2.4.3 電纜長(cháng)度設置:1m
2.4.4 高使用頻率:30MHz
2.5 高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中,檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。
用戶(hù)可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。
2.6 SWY2858系列 介電常數測試儀配置
配置類(lèi)型
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普及型
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標準型
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精密型
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電橋工作頻率范圍
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100Hz~100kHz
精度:±0.02%
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20Hz~5MHz
精度:±0.02%
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20Hz~5MHz
精度:±0.02%
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配置型號
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SWY2817A數字電橋
+SWY916B測試裝置
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SWY2818系列 阻抗分析儀
+SWY916B三電極測試裝置
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SWY2818系列 阻抗分析儀
+16451B介質(zhì)材料測試裝置
(能適宜各種樣品)
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介電常數范圍
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1-1000
精度:±5%
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1-1000
精度:±2%
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1-100000
精度:±2%
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損耗因素D值范圍
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0.0001~9.9999
四位數顯
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0.00001~9.99999
六位數顯
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0.00001~9.99999
六位數顯
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相關(guān)產(chǎn)品:FKE3000系列手持電平及高頻保護通道綜合測試儀;FKE3300手持阻波器結合濾波器自動(dòng)測試儀;FKE3020手持光纖通道綜合測試儀;FKE3023手持選頻電平表;FKE3073手持電平振蕩器;FKE6222二合一選頻電平表電平振蕩器一體機;FKE7902臺式多功能選頻電平表;FKE7907臺式多功能電平振蕩器;FKE3200手持蓄電池內阻容量分析儀;FKE200手持鐵路通信載波自動(dòng)測試儀;FKE-120手持數字雜音計